詳細說明：
反射膜在線測厚儀
PSC是北美洲**的近紅外在線測試儀制造商，是******的近紅外水分儀制造商位于美國麻省Milford，主要人員來自于美國Moisture Systems Corporation（MSC水分測試系統有限公司），在MSC被Thermo Electron（熱電公司）收購后組建了PSC。總部位于美國，在英國，波蘭，**，馬來西亞均有專業的代理公司,經銷商遍布**。
美國PSC涂層測試儀擁有**技術Smart Sensor Technology（SST智能化測試頭技術），把涂層測試、信號處理、設置操作、結果顯示、控制輸出、網絡連接等所有功能均集中在**體化測試頭，可以連續地，非接觸地通過干測試和濕測試方法在線檢測涂層厚度，而且操作簡便，標定設置后，**年不需要調整，非常的穩定和準確。
1、PSC涂層厚度測試在膠粘制品生產過程中非常重要，它可以在線測試水膠、油膠、熱熔膠的厚度（范圍：**小0.1-1gr/㎡**大0-200gr/㎡）。
2、PSC涂層厚度測試儀通過掃描架直接安裝在涂布頭的上方，可以精確的檢測涂膠厚度是否超出標準、均勻，減少不及格產品的浪費，提高產品質量，減少原材料的消耗，并且可以大大提高生產效率，增加產量。而且避免了半成品的取樣檢測環節，減少了斷頭。
3、經過計算，我們的客戶在使用PSC涂層測試儀后，涂膠成本基本上都有了近10%的降低，有的甚至達到了15%，從而給貴廠的資金和人力成本帶來了大幅降低，**終為貴廠帶來可觀經濟效益。
**、涂層種類通常有3種涂層：
1． 水性涂層：溶液的濃度在10%-60%之間
2． 油性涂層：溶劑為有機物溶液，和水性涂層應用相似，但要注意有**定的危險品成分
3． 擠出和熱溶膠涂層：涂在底材上是熔溶物，涂布頭的種類有加熱壓模,加熱槽和浸槽。
二、測試方式：
近紅外水分和涂層測試儀應用方式有多種，通常能歸類為濕測試和干測試。
濕測試：測試位于涂布頭附近，對于水涂層，測試的是涂層的含水量，對于油涂層，測試的是涂層的溶劑的含量。對于濕測來說，涂層并非直接測試而是通過已知的濃度推算出來。
濕測試要考慮的幾個問題：
1．測試位置應該盡量靠近涂布頭，以減少揮發的影響，特別是油性涂層，因為揮發比較快，所以測試變成對機器的涂布速度敏感，當車速較慢時，揮發會更多，造成測試的誤差。
2．因為測試對象實際上溶劑，所以精度受濃度的影響，盡量保持溶液的濃度。
3．油性溶劑包含有爆炸危險的成分，測試頭要有適當的保護措施。
干測試：測試位于水或其他溶劑已經被烘干的地方，是直接**后的涂層測試。這種測試只有涂層含有紅外線吸收物才可以進行，這種涂層幾乎都是含有有機物的C-H鍵。
三、干測試和濕測試的優缺點
濕測試-優點：
1． 控制速度較快，因為測試位置靠近涂布頭，
2． 通常精度較高，因為溶液的水和溶劑含量通常較高，較少的涂層變化都能測試。
濕測試-缺點：
1． 需要保持溶液的濃度來保證測試的精度，批量之間少許的差異不會影響測試，但要求測試儀對每種不同的濃度做不同的標定；
2． 油性溶劑需要考慮測試頭適合危險的環境，這樣**來，測試頭體積和成本都有所增加。
干測試-優點：
1． 實際的涂層量直接測試；
2．少受危險品的影響。
干測試-缺點：
1．涂層必須為紅外線吸收物質；
2． 測試頭安裝在離涂布頭較遠的位置，對控制系統造成延遲。
四、各種應用說明：
擠出和熱溶膠：類似干測試，只不過沒有測試的延遲。典型的應用包括襯紙或照相紙的聚乙烯涂層，襯紙或食品袋的臘涂層。涂層測試可以控制擠出機的溫度，壓力和車速，加上掃描支架，可以控制個別的die bolt避免碰撞和不均勻。
剩余水分：剩余水分在許多涂布過程是嚴格要求的，NIR的測試精度可以達到千分之幾。NIR可以穿透大多數的涂層，因而測試的水分也包括了底材的水分，幸好大多數的應用并不要求分辨涂層和底材的水分。
金屬底材的薄涂層：NIR可以測試金屬表面特別薄的涂層。其中兩個例子是鋁箔的力迦涂層，鋁片的潤滑油。然而，NIR在這方面的測試是困難的，因為這些涂層的吸收很弱，需要特別設計的薄涂層測試頭，應用中紅外的波長，大約為3400nm,這樣**來，吸收比NIR增大了10-100倍，在薄膜或涂層很薄并不規則的情況下，例如鋁箔的啞光力迦涂層，仍然可以用NIR反射原理的測試，問題的解決需要用到Brewster角度（大約58°）的偏振光。
透明底材：例如塑料薄膜之類的透明底材對于NIR的測試是比較特別的，首先因為薄膜是透明的，反射非常弱，需要在另**面安裝反射裝置；其次，如果涂層和薄膜具有相似的化學成分，例如聚乙烯薄膜的丙烯酸涂層，NIR測試儀不能分辨涂層和底材，這樣**來需要采用差分測試模式，即應用兩個測試頭，**個在涂布之前測試薄膜，另**個在涂布頭之后，測試薄膜和涂層，涂層可以相減得出。不同厚度的薄的透明膜會對NIR測試造成光學的干涉，解決問題的方法是薄膜接受器，再裝上反射裝置。
共擠出薄膜：典型的應用包括尼龍/聚乙烯/PET/EVOH
水分：正確安裝并良好標定的測試儀通常可以達到+/-0.1%的精度。
克重：NIR可以測試**些薄膜或透明底材，例如塑料薄膜和輕質紙的克重，NIR技術受限制于NIR光線必須穿透被測試物，厚紙和不透明薄膜的克重因此不能測試。
底材
任何底材的水性涂層都很容易測試，鋁箔和紙的油性涂層測試也沒有問題。透明塑料或其他有機底材的油性涂層測試較為復雜，規則的**致性好的底材對于測試做成的偏差可以用調零的方法消除，不規則的底材的測試可以用雙測試頭做成差分測試方式來解決，當然也可以僅用單測試頭，但會引起偏差。
掃描系統
對于多數的涂布寬度來說，測試的光斑是很小的，**好能夠安裝手動或自動的掃描系統，這樣不但可以監測更大幅面的涂層，而且可以觀察到橫向的涂層變化從而調節涂布頭的平衡。
五、典型的應用
紙底材
膠粘涂層：水性或油性，濕測或干測，精度為±0.15gm(0.09lb/rm)
膠粘涂層：熱熔膠，干測，精度為±0.2gm/(0.12lb/rm)
粘土/乳膠涂層：濕測，精度為±0.2gm（0.12lb/rm），需要保持溶液的濃度
力架涂層：濕測或干測，精度為±0.15gm（0.09lb/rm）
微膠囊涂層：濕測，精度為±0.2gm（0.12lb/rm）,需要保持溶液的濃度
擠壓塑料涂層：干測，精度為±0.1gm（0.06lb/rm）
塑料乳劑涂層：濕測或干測，精度為±0.2gm（0.12lb/rm）
蠟涂層：干測，精度為±0.2gm（0.12lb/rm）
薄膜底材
水性膠粘涂層：濕測或干測，干測可能